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產品優勢
缺陷圖例
晶硅電池PECVD鍍膜檢測模塊
主要用于檢測晶硅電池片鍍膜工藝后的色差和表面缺陷
產品型號：LP
solar
- SP200 (面陣)、LP
solar
- SP300 (線掃)
點擊下載(請先登錄)
產品下載
驗證
參數性能
產能
≥4500片/小時
最高檢測精度
90μm
設備有效時間
≥99%
重復檢測率
>99.9%
破片率
<0.05%（機械臂吸片）
重復性
99.85%
外形尺寸
單檢測工位：430mm*350mm*600mm
重量
單檢測工位≤20KG
產品優勢
配備深度學習功能，將缺陷的標準交給生產商
配備標準WEB、SQL接入口
不停頓成像模式、不停頓剔除NG片
靈活、可定義的分選標準
定制化工程方案
缺陷圖例
白點
臟污
片內色差
整體色差
邊緣繞度
刻蝕印
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